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天线测量的典型配置

大多数普通天线的测量是测定其远场的辐射特性，如方向图（幅度、相位、极化）、旁瓣电平、增益、频带宽度等。本节将定义这些测量的基本概念。

测量辐射特性的典型配置。基本步骤是将一副发射或接收的源天线放在相对于待测天线（aut）的远场位置上，待测天线架设在可旋转平台上，旋转待测天线，借以采集大量方向图取样值，实现天线辐射特性的测量。由于天线是电磁开放系统，测试环境对测量结果将产生影响，近场探头报价，因此必须合理选择测试场地，尽量实现无反射的环境，近场探头多少钱，如建造微波暗室等。

天线辐射特性测量法分类

天线辐射特性测量方法。远场法可分为室外场、室内场及紧缩场；近场法可分为平面、球面、柱面近场测试法。

远场方法

远场方法又称为直接法，所得到的远场数据不需要计算和后处理就是方向图。但是它往往需要很长的距离才能测试天线的特性，所以大多数的远场方法都在室外测试场地进行。室外场又分高架场和斜架场，统称为自由空间测试场，主要缺点是容易受外界的干扰和场地反射的影响。远场方法如果在暗室里进行就称为室内场。因为所需空间很大，室内场往往成本高。

紧缩场在分类上是属于远场测试场，但是它不用很大的测试场，而是用一个抛物面天线和馈源，馈源放在抛物面天线的焦点区域，经过抛物面反射的波是平面波。这样被测天线就在平面波区域。紧缩场设备的加工精度要求---，改变工作频段需要更换馈源，费用较大。